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  • 高速波前傳感器 400-800nm 光束直徑2.0-4.6mm

    高速波前傳感器 400-800nm 光束直徑2.0-4.6mm 產品總覽 PULSTEC該傳感器基于Shack-Hartmann方法，能夠實時測量光源和光學像差。

    更新時間：2024-12-08
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  • XUV/EUV 寬帶軟X射線高分辨率光譜儀 2-100nm

    筱曉(上海)光子技術有限公司是一家被上海市評為高新技術企業(yè)的專業(yè)光學服務公司，業(yè)務涵蓋設備代理以及項目合作研發(fā)，建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光學實驗室，為國內外客戶提供專業(yè)技術支持服務 XUV/EUV 寬帶軟X射線高分辨率光譜儀 2-100nm

    更新時間：2024-12-08
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  • SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm（機器視覺）

    SPECT-100 nir1 近紅外光譜相機(光譜成像單元) 600-1100 nm（機器視覺） 產品總覽 SPECT-100 vis nir1 nir2型光譜成像單元,光譜成像是一種通過二維捕捉物體，獲取、分析和顯示物體各部分光譜信息的技術。通過光譜分析每個部分的數據，可以獲得材料的物理和化學信息并將其顯示為圖像。

    更新時間：2024-12-08
    產品型號：
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  • 紅外探測卡IR5

    筱曉(上海)光子技術有限公司是一家被上海市評為高新技術企業(yè)的專業(yè)光學服務公司，業(yè)務涵蓋設備代理以及項目合作研發(fā)，建有*的AOL(Advanced Optical Labs)光學實驗室，為國內外客戶提供專業(yè)技術支持服務 紅外探測卡IR5

    更新時間：2024-12-08
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  • 極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT

    極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學 無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振） 產品總覽 三維無損成像技術在材料科學和醫(yī)學等許多應用領域都非常重要。我們開發(fā)了一種成像技術，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。 例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。

    更新時間：2024-12-08
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